大理石框架
大理石框架搭配直线电机：实现稳定、高速、高精度
高精度检测
可进行2D尺寸测量、外观检测，3D厚度测量。2D尺寸测量像素标定1.7um，测量重复精度±5um,3D厚度测量像素标定0.5um,测量重复精度±1um，2D缺陷检测最小可检测宽度12um。
自主研发系统
自主研发系统，人机交互界面友好。支持离线编程功能，支持DXF/CAD图纸导入功能，带有型号配方管理系统，可实现快速换型。数据统计、图像及图形报告完全存储可历史追溯。
完善的信号处理
直线模组和线扫相机的信号均进行屏蔽干扰保护，保障取图的真实性，确保测量和检测的准确性。
大理石框架
高精度检测
自主研发系统
完善的信号处理
厚膜电路自动AOI检测机 SC32 玉衡
设备用于切割前/后的陶瓷基板厚膜电路类型产品的尺寸测量与外观检测，独特的视觉方案可适应不同基板及印刷导体材质的产品，兼容干/湿膜检测，设备可依据设定要求进行图形尺寸测量、印刷厚度测量、2D/3D缺陷检测，完全取代三坐标系仪器的人工检测及显微镜下的视觉检测，大大提高生产效率和质量。
高速+高精度
大理石框架+直线电机+面阵相机
兼容性强
可兼容不同基板及印刷导体材质的厚膜电路缺陷类型
全直线电机驱动
定位精度可达±1μm
产品导入
支持DXF/DWG/GBR图纸多图层导入，不同图层区域可设置不同检测标准
柔性检测
最小识别缺陷5μm，可自动适应产品图形因收缩率不同等原因导致的一致性问题
数据管理系统
具备储存及分析功能，缺陷分布可导出报表，对历史数据合并分析
