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薄膜微波电路视觉检测设备 DBC/DPC/AMB视觉检测设备 生瓷带自动AOI检测机 SC30 摇光 厚膜电路自动AOI检测机 SC32 玉衡
四大优势
FOUR ADVANTAGES
大理石框架
大理石框架搭配直线电机:实现稳定、高速、高精度
高精度检测
可进行2D尺寸测量、外观检测,3D厚度测量。2D尺寸测量像素标定1.7um,测量重复精度±5um,3D厚度测量像素标定0.5um,测量重复精度±1um,2D缺陷检测最小可检测宽度12um。
自主研发系统
自主研发系统,人机交互界面友好。支持离线编程功能,支持DXF/CAD图纸导入功能,带有型号配方管理系统,可实现快速换型。数据统计、图像及图形报告完全存储可历史追溯。
完善的信号处理
直线模组和线扫相机的信号均进行屏蔽干扰保护,保障取图的真实性,确保测量和检测的准确性。
大理石框架
高精度检测
自主研发系统
完善的信号处理
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薄膜微波电路视觉检测设备
设备用于切割前/后的陶瓷基板薄膜电路类型产品的尺寸测量与外观检测,独特的视觉方案可适应不同基板及镀层材质 的产品,设备可依据设定要求进行图形尺寸测量、镀膜厚度测量、2D/3D缺陷检测,完全取代三坐标系仪器的人工检 测及显微镜下的视觉检测,大大提高生产效率和质量。
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检测产品
薄膜电路、微带滤波器、薄膜衰减片、厚膜陶瓷基板、功率热沉等领域
高速+高精度
大理石框架+直线电机+面阵相机
全伺服电机驱动
定位精度可达1μm
离线编程
实时不停线调试
不良品标识
可选配激光打标或者喷墨打点,并且可生成图形报告
智能化
型号配方管理系统,搭配自动模块,一键切换不同检测需求
DBC/DPC/AMB视觉检测设备
设备用于切割前/后的陶瓷基板薄膜电路类型产品的尺寸测量与外观检测,独特的视觉方案可适应不同基板及镀层材质 的产品,设备可依据设定要求进行图形尺寸测量、镀膜厚度测量、2D/3D缺陷检测,完全取代三坐标系仪器的人工检 测及显微镜下的视觉检测,大大提高生产效率和质量。
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检测产品
薄膜电路、微带滤波器、薄膜衰减片、厚膜陶瓷基板、功率热沉等领域
高速+高精度
大理石框架+直线电机+面阵相机
全伺服电机驱动
定位精度可达1μm
离线编程
实时不停线调试
不良品标识
可选配激光打标或者喷墨打点,并且可生成图形报告
智能化
型号配方管理系统,搭配自动模块,一键切换不同检测需求
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生瓷带自动AOI检测机 SC30 摇光
适用于LTCC/HTCC/MLCC等烧结前的生瓷带的尺寸测量及外观检测,独特的视觉方案可适应不同尺寸的产品。可依据设定要求进行印刷图案的缺陷检测、已填孔或未填孔的孔位缺陷、填孔质量检测、图形尺寸测量、厚度测量等,完全取代三坐标系仪器的人工检测及显微镜下的视觉检测,大大提高生产效率和质量。
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高速+高精度
大理石框架+直线电机+线阵相机
兼容性强
可兼容不同颜色种类材质的生瓷带和印刷浆料
全直线电机驱动
定位精度可达±0.5μm
产品导入
支持DXF/DWG/GBR图纸多图层导入,不同图层区域可设置不同检测标准
柔性检测
最小识别缺陷5μm,可自动适应产品图形因收缩率不同等原因导致的一致性问题
数据管理系统
具备储存及分析功能,缺陷分布可导出报表,对叠层缺陷合并分析
厚膜电路自动AOI检测机 SC32 玉衡
设备用于切割前/后的陶瓷基板厚膜电路类型产品的尺寸测量与外观检测,独特的视觉方案可适应不同基板及印刷导体材质的产品,兼容干/湿膜检测,设备可依据设定要求进行图形尺寸测量、印刷厚度测量、2D/3D缺陷检测,完全取代三坐标系仪器的人工检测及显微镜下的视觉检测,大大提高生产效率和质量。
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高速+高精度
大理石框架+直线电机+面阵相机
兼容性强
可兼容不同基板及印刷导体材质的厚膜电路缺陷类型
全直线电机驱动
定位精度可达±1μm
产品导入
支持DXF/DWG/GBR图纸多图层导入,不同图层区域可设置不同检测标准
柔性检测
最小识别缺陷5μm,可自动适应产品图形因收缩率不同等原因导致的一致性问题
数据管理系统
具备储存及分析功能,缺陷分布可导出报表,对历史数据合并分析
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新能源&通信:肖经理 13826162673
半导体:邹经理 18026204707
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