FCB9900 FC 高速倒装芯片固晶设备
倒装回流焊工艺

测试分选系列
1mm以下芯片的KGD测试分选 主被动元器件的测试分选 特殊测试条件元器件测试分选
封装AOI系列
金丝键合(2D+3D)单/双面外观检测 生瓷带外观检测

KDG测试分选系统
高温适配 精准筛选 高效量产 成本控制
高速三合一测试设备
外观缺陷检测 电性能测试 成品包装

EC300Plus 焊线&芯片外观检机
金丝键合(2D+3D)视觉精度最高1um 超景深融合技术

SCP-5T 全自动伺服压接机
高精度装载平台 自动切换压膜自动压接

ACP-3T 在线式全自动压接机
Z轴浮动压接头 智能自动调宽轨道 多槽位连接器压接模储存架

MCP-10T 高精密压接机
免焊接 行程精度可达μ级 电子两段力
深耕半导体封装设备智能制造领域,不断开创标杆性场景化应用方案
全方位提供全产业链先进封装固晶设备、TCB封装设备测试一站式服务
专注于半导体先进封装及测试整体解决方案,产品线覆盖芯片、分立器件、光通讯、新能源、射频及存储等领域,全方位提供后道全产业链封装测试一站式服务。

  • 50+覆盖行业

  • 7+后道全产业链方案

  • 10+全球分支机构

速递诺顶最新行业资讯
2026-01-22
在半导体产业快速发展的背景下,封装环节的质量直接影响芯片性能与可靠性。随着集成度提高和多芯片封装(MCP、SiP)普及,传统手动或半自动压接工艺已难以满足高良率、高一致性生产要求。全自动压接设备凭借精准控制、稳定工艺及智能化管理,正在成为半导体封装企业提升质量和效率的关键利器。
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2026-01-22
随着半导体、封装和微电子产业的快速发展,压合工艺成为保证芯片可靠性和封装性能的核心环节。市场上全自动压合设备厂家众多,产品技术水平和服务能力差异明显。企业在选型时,如果缺乏专业判断,很容易踩坑,导致设备投资风险大、产线良率不稳定,甚至影响整体封装质量。本文将从技术指标、工艺兼容性、售后服务及行业案例四个维度,详细解析全自动压合设备厂家选型方法和避坑指南。
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2026-01-22
随着半导体器件多样化发展,芯片种类从传统 MCU、SOC、存储器扩展到射频芯片、电源模块和异构封装产品,测试需求日益复杂。桌面型分选机以小巧灵活、占地小、操作便捷为特点,广泛应用于研发、实验室和中小批量生产环节。然而,不同客户的芯片接口、信号类型和测试标准各异,这就提出了一个关键问题:桌面型分选机厂家是否支持定制化测试接口?本文将从技术可行性、定制方式、实际案例及选型建议四个方面进行深入解析。
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2026-01-22
随着半导体行业向高性能、低功耗、异构集成发展,系统级芯片(SOC,System on Chip)在智能手机、AI芯片、物联网设备及数据中心应用中扮演着核心角色。SOC芯片的功能集成度高、引脚复杂、工艺精密,量产测试与分选难度极大。SOC分选设备正成为保证量产良率、一致性和产线效率的关键技术装备。
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2026-01-22
随着5G、Wi-Fi 6/7、物联网及卫星通信的发展,射频芯片在通信终端、基站、雷达及高频传感器中占据核心地位。射频芯片功能复杂、频段多样、性能要求严格,对测试和分选设备提出了极高的精度和一致性要求。为了保障量产芯片的性能稳定性,射频芯片分选设备成为企业不可或缺的关键装备。
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2026-01-22
在半导体封装和微电子制造领域,金丝键合工艺是实现芯片与封装引脚电连接的关键步骤。随着封装尺寸的微型化和芯片集成度的提升,金丝键合的质量控制变得尤为重要。微裂纹和虚焊是金丝键合中最常见且最难以发现的缺陷类型,这些缺陷会导致封装可靠性下降、芯片性能不稳定,甚至引发批量失效。
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