FCB9900 FC 高速倒装芯片固晶设备
倒装回流焊工艺

测试分选系列
1mm以下芯片的KGD测试分选 主被动元器件的测试分选 特殊测试条件元器件测试分选
封装AOI系列
金丝键合(2D+3D)单/双面外观检测 生瓷带外观检测

KDG测试分选系统
高温适配 精准筛选 高效量产 成本控制
高速三合一测试设备
外观缺陷检测 电性能测试 成品包装

EC300Plus 焊线&芯片外观检机
金丝键合(2D+3D)视觉精度最高1um 超景深融合技术

SCP-5T 全自动伺服压接机
高精度装载平台 自动切换压膜自动压接

ACP-3T 在线式全自动压接机
Z轴浮动压接头 智能自动调宽轨道 多槽位连接器压接模储存架

MCP-10T 高精密压接机
免焊接 行程精度可达μ级 电子两段力
深耕半导体封装设备智能制造领域,不断开创标杆性场景化应用方案
全方位提供全产业链先进封装固晶设备、TCB封装设备测试一站式服务
专注于半导体先进封装及测试整体解决方案,产品线覆盖芯片、分立器件、光通讯、新能源、射频及存储等领域,全方位提供后道全产业链封装测试一站式服务。

  • 50+覆盖行业

  • 7+后道全产业链方案

  • 10+全球分支机构

速递诺顶最新行业资讯
2026-02-26
在功率器件、射频器件、高可靠电子及先进封装领域中,共晶封装始终是实现高导热、高可靠互连的重要工艺路线。随着封装形态持续向高功率密度、高集成度与长寿命方向演进,共晶封装对设备能力提出了更高要求,也倒逼共晶机设备厂家不断升级技术体系。
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2026-02-26
随着半导体技术持续向高集成度、高性能、小型化方向发展,单芯片方案已难以满足复杂应用需求。多芯片集成正成为高端电子模组制造的重要趋势,而多芯片固晶设备则是实现这一制造能力的关键核心装备之一。
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2026-02-26
在全球半导体产业格局深度调整、国产化进程持续推进的背景下,封装测试作为半导体产业链中技术密集度与设备依赖度极高的关键环节,其装备自主可控水平正成为行业关注的焦点。其中,半导体三光设备作为封测环节的重要基础装备,其国产化能力直接影响封测产业体系的完整性与稳定性。
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2026-02-26
在先进封装与系统级集成不断深化的背景下,KGD已成为保障封装良率与系统可靠性的关键基础。KGD测试分选环节的核心目标,是在封装前准确筛选出电性能与可靠性达标的裸Die,而KGD测试分选设备厂家的技术能力,直接决定了芯片良率评估的准确性与量产一致性。
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2026-02-26
随着先进封装技术向高集成度、系统级方向发展,硅基电容作为关键无源器件,正被广泛集成于异构材料封装结构之中。在多材料、多工艺高度耦合的封装环境下,硅基电容的电性能一致性与可靠性,越来越依赖于高性能硅基电容测试分选设备厂家所提供的测试与分选能力。
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2026-02-26
随着移动终端、AI计算与高性能服务器对内存带宽与能效要求不断提升,LPDDR芯片正加速向更小尺寸、更高集成度、更低功耗方向演进。在这一背景下,LPDDR封装对固晶工艺提出了前所未有的挑战,而LPDDR固晶设备厂家的技术能力,已成为保障高密度芯片贴装稳定性的关键因素。
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2026-02-04
在先进封装技术快速演进的背景下,倒装芯片封装凭借互连密度高、电性能优、散热路径短等优势,已成为高性能芯片封装的重要技术路线。而倒装芯片固晶设备,作为Flip Chip工艺中的核心装备,其性能水平直接决定了封装良率、可靠性与量产稳定性。
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2026-02-04
随着半导体器件向小尺寸、高性能、低功耗持续演进,芯片封装正快速迈入微型化时代。从可穿戴设备、智能终端到车规级与工业级应用,芯片体积不断缩小、I/O密度持续提升,对封装工艺与装备能力提出了前所未有的挑战。在这一背景下,高精度固晶设备厂家正成为支撑微型化芯片封装落地的关键力量。
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2026-02-04
在先进封装与异构集成快速发展的背景下,堆叠芯片封装已成为提升系统性能与集成度的重要路径。从存储芯片堆叠、Chiplet集成到3D IC封装,多层芯片之间的对位精度直接决定封装良率与产品可靠性。
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2026-02-04
随着先进封装技术不断向高集成度、高I/O数量、小型化方向演进,高密度引脚器件对封装工艺提出了前所未有的挑战。TCB封装设备,正成为实现高密度互连与高可靠性的核心装备之一。
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